ENEPIG PCB to skrót od złocenia, palladu i niklowania. Powłoka ENEPIG PCB to najnowsza technologia stosowana w przemyśle obwodów elektronicznych i półprzewodników. Złota powłoka o grubości 10 nm i powłoka palladowa o grubości 50 nm zapewniają dobre przewodnictwo, odporność na korozję i tarcie.
Wiele właściwości płytek PCB megtron4 opracowanych przez firmę Panasonic obejmuje wysoką częstotliwość, test diagramu oka, niezawodność otworów przelotowych, odporność na CAF, wydajność wypełniania IVH, bezołowiową kompatybilność, wydajność wiercenia i wydajność usuwania żużla
Taconic PCB to nazwa firmy w Stanach Zjednoczonych. Taconic jest największym na świecie producentem laminatów pokrytych miedzią PTFE. Posiada patent równomiernego powlekania PTFE na tkaninie szklanej i jest jednym z liderów technologicznych w branży laminatów pokrytych miedzią w mikrofali.
W dobie szybkiego rozwoju wzajemnie połączonych sieci danych i optycznych, stale pojawiają się moduły optyczne 100G PCB, moduły optyczne 200G PCB, a nawet moduły optyczne 400G PCB. Jednak duża prędkość ma zalety dużej prędkości, a mała prędkość ma również zalety niskiej prędkości. W dobie szybkich modułów optycznych PCB modułu optycznego 10G wspierają działania producentów i użytkowników dzięki swoim unikalnym zaletom i stosunkowo niskim kosztom. 10G moduł optyczny, jak sama nazwa wskazuje, to moduł optyczny, który przesyła 10G danych na sekundę. Zgodnie z zapytaniami: moduły optyczne 10G są pakowane w 300pin, XENPAK, X2, XFP, SFP + i inne metody pakowania.
Każdy układ scalony jest modułem monolitycznym zaprojektowanym w celu uzupełnienia niektórych charakterystyk elektrycznych. Testowanie układów scalonych to test układów scalonych, w którym wykorzystuje się różne metody wykrywania tych, które nie spełniają wymagań z powodu wad fizycznych w procesie produkcyjnym. próba. Jeśli są produkty nieuszkodzone, testowanie układów scalonych nie jest konieczne. Poniższe informacje dotyczą obwodów testowych układów scalonych, mam nadzieję, że pomogą ci lepiej zrozumieć układy testowe układów scalonych.
